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杭州大阳城集团娱乐游戏科技股份有限公司

产品展示

Product Demonstration

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混合集成电路高温动态老化测试系统(定制型)

符合标准:

AEC-Q100,MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准。

适用范围:

适用于各种封装数字、模拟、数模混合电路进行高温动态老化试验。

技术特点:

一板一区,可满足多种不同试验参数的器件同时老化。

完善的、种类齐全的老化器件数据库可供用户调用。

64路回检信号,可设置回检通道信号出错依据,并判断该通道信号是否正常。


技术性能

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