Product Demonstration
符合标准:
MIL-STD-750D、GJB128等试验标准。
适用范围:
适用于各种封装形式的中、小功率二极管稳态寿命试验(CFOL)和间歇寿命试验(IFOL)。
技术特点:
试验电流恒定,试验参数采用电脑程控设定。
一板一区,可满足多种试验电流的老化试验。
每个试验通道11路恒流电子负载,可并联增加试验电流。
可同时满足稳态(CFOL)和间歇(IFOL)寿命老化试验。